Kategorie
Adres sklepu
GOTRONIK PPHU
ul. Bystrzycka 69C
(I piętro, wejście od strony osiedla)
54-215 Wrocław
(I piętro, wejście od strony osiedla)
54-215 Wrocław
Godziny otwarcia sklepu:
poniedziałek 08:00 - 16:00
wtorek 08:00 - 16:00
środa 08:00 - 16:00
czwartek 08:00 - 16:00
piątek 08:00 - 16:00
sob. - niedz. zamknięte
poniedziałek 08:00 - 16:00
wtorek 08:00 - 16:00
środa 08:00 - 16:00
czwartek 08:00 - 16:00
piątek 08:00 - 16:00
sob. - niedz. zamknięte
Mapa (kliknij):
Kontakt
- Gotronik PPHU
NIP: PL8971671385 - E-mail:biuro@gotronik.pl
- TelefonBiuro: 71 351 10 31
Zamówienia: 511-048-814
Pyt, techniczne: 514-349-414 - Gadu Gadu1767965
5476656
8342724
Bestsellery
- 1
Papier termotransferowy A4 do płytek drukowanych
- 2
Filtr 16,8mm do ZD915 ZD917 ZD-915 ZD-917
- 3
Przetwornica napięcia 12V Step Up
- 4
Moduł szufladki magazynowej z przegródkami 180x110x55mm
- 5
Listwa kołkowa 1x40pin precyzyjna raster 2,54mm czarna
- 6
Krokodylek 2mm do przewodów miernika CZERWONY
- 7
Krokodylek 2mm do przewodów miernika CZARNY
- 8
PCT-211 szybkozłączka na szynę DIN czarna
- 9
Chwytak pomiarowy pazurkowy czerwony
- 10
Chwytak pomiarowy pazurkowy czarny
Hity sklepowe
1
Promocja -33%
UPO1202CS oscyloskop cyfrowy 2x200MHz1 499,00 zł999,00 zł brutto812,20 zł netto
Hit
UT15C wskaźnik napięcia 12-690V AC/DC120,00 zł brutto97,56 zł netto
Promocja -10%
Kamera termowizyjna UTi260B rozdzielczość 256 x 1921 195,00 zł1 075,00 zł brutto873,98 zł netto
Super promocja -12%
Tester układów scalonych IC
Czas wysyłki: 24 godziny
Koszt wysyłki: od 0,00 zł
Numer katalogowy: BTE-392
Stan magazynowy: 
Stan produktu: Nowy
- Opis produktu
- Recenzje produktu (0)
Tester układów scalonych IC
Wielofunkcyjny tester układów scalonych IC wyposażony jest w wyświetlacz ciekłokrystaliczny LCD, podstawkę zaciskową ZIF-24, oraz klawiaturę sterującą. Zasilany jest przy pomocy dwóch baterii AA 1,5V. Tester jest całkowicie przenośny i umożliwia testowanie/sprawdzanie/wykrywanie/: cyfrowych układów logicznych z serii TTL/CMOS, układów interfejsowych, wzmacniaczy operacyjnych, tranzystorów bipolarnych pnp npn, tranzystorów unipolarnych N- MOS P -MOS, diod Zenera do 50V, transoptorów (optoizolatorów). Sprawdzanie poprawności działania układów scalonych sprowadza się do automatycznego wykrycia typu układu, tranzystorów do wykrycia układu wyprowadzeń, diod Zenera na zbadaniu spadku napięcia.
Wielofunkcyjny tester układów scalonych jest profesjonalnym instrumentem przeznaczonym dla inżynierów, personelu serwisowego, elektroników. Różne tryby testowania - można wybrać : tryb 5V lub 3,3V, tryb AUTO, 74HC, 74LS, CD4000, HEF400, 4500, wzmacniacze operacyjne, układy interfejsowe, transoptory, diody zenera, tranzystory.
dane techniczne:
- tester układów scalonych IC
- wyświetlacz ciekłokrystaliczny LCD
- klawiatura sterująca
- podstawka zatrzaskowa ZIF-24 pin
- zasilanie: 2x bateria AA 1,5V (brak w zestawie)
- funkcja automatycznego wykrywania włożonego układu scalonego
- testowanie diod Zenera do 50V
prezentacja i przykładowe pomiary:
| funkcja: | opis funkcji: |
|
| Search | Auto mode | automatyczne wyszukiwanie typu (jeśli to możliwe) |
| 5.0v mode | ||
| 3.3v mode | ||
| 74HC | testowanie układów z serii 74HC (konieczność ręcznego wybrania modelu) | |
| 74LS | testowanie układów z serii 74LS (konieczność ręcznego wybrania modelu) | |
| CD40 | testowanie układów z serii CD4000 (konieczność ręcznego wybrania modelu) | |
| HEF40 | testowanie układów z serii HEF4000 (konieczność ręcznego wybrania modelu) | |
| 45/145 | testowanie układów z serii 45 series 145 series logic device test (konieczność ręcznego wybrania modelu) | |
| OTHER | testowanie układów interfejsowych: MAX232, MAX485, 75175, 75176, 75c11.. (konieczność ręcznego wybrania modelu) | |
| AMP | testowanie wzmacniaczy operacyjnych, komparatorów: LM324, LM358, LM339, LM393, LM2902 ... (konieczność ręcznego wprowadzenia modelu). | |
| TR | identyfikacja tranzystora: typ tranzystora, oraz oznaczenie wyprowadzeń. Identyfikowane tranzystory NPN, PNP, N-MOS, P -MOS, tyrystory, triak |
|
| ZD | testowanie diod Zenera do 50V, rozdzielczość pomiaru 0,01V |
|
| LIGHT | testowanie transoptorów 4 pinowy |
|
| OFF | wyłączenie | |
wyświetlane komunikaty testera IC:
| Komunikat: | Opis: |
|
| OK | test OK normalny |
|
| Batter | rozładowana bateria - sprawdź baterię |
|
| Not found | nie można znaleść / rozpoznać |
|
| Fault | uszkodzony układ lub wybrano zły typ |
|
| Open | otwarty obwód |
|
| Not supported | nie obsługiwany |
|
| NPN | typ tranzystora NPN |
|
| PNP | typ tranzystora PNP |
|
| N-MOS | typ tranzystora FET | |
| P-MOS | typ tranzystora FET | |
| 1-SCR | Way SCR | |
| 2-SCR | Triac | |
| 2D | Common cathode and common anode rectifier | |
| A.k.b.c.e.g. | specyfikacja kolejności wyprowadzeń |
|
| Out of range | napięcie Zenera poza zakresem pomiarowym |
|
| ERR1.2 | auto test zakończony niepowodzeniem |
|
zdjęcia:
Nikt jeszcze nie napisał recenzji do tego produktu. Bądź pierwszy i napisz recenzję.
Tylko zarejestrowani klienci mogą pisać recenzje do produktów. Jeżeli posiadasz konto w naszym sklepie zaloguj się na nie, jeżeli nie załóż bezpłatne konto i napisz recenzję.
Klienci zakupili także
Pozostałe produkty z kategorii