wyszukiwanie zaawansowane
1 » 2 » 3 » Tester układów scalonych IC4

Adres sklepu

GOTRONIK PPHU
ul. Bystrzycka 69C
(I piętro, wejście od strony osiedla)
54-215 Wrocław
Sklep czynny od 8 do 16
Mapa (kliknij):
Mapa dojazdu do Gotronik

Kontakt

Certyfikat Prokonsumencki

Certyfikat Prokonsumencki dla Gotronika

Systemy płatności

  • Dotpay
Tester układów scalonych ICTester układów scalonych ICTester układów scalonych ICTester układów scalonych ICTester układów scalonych ICTester układów scalonych ICTester układów scalonych IC
Tester układów scalonych ICTester układów scalonych ICTester układów scalonych ICTester układów scalonych ICTester układów scalonych ICTester układów scalonych ICTester układów scalonych IC

Tester układów scalonych IC

Dostępność: Dostępny

Koszt wysyłki: od 9,00 zł Dostępne formy wysyłki dla oglądanego produktu:Kurier - 15,00 zł
Odbiór osobisty - 0,00 zł
Przesyłka pocztowa priorytetowa - 9,00 zł

Numer katalogowy: BTE-392

Stan magazynowy:

Cena: 278,00 zł

Ilość: szt.
Dodaj do koszyka

dodaj do schowka

  • Opis produktu
  • Recenzje produktu (0)
Tester układów scalonych IC

BTE-392 tester układów scolonych loginych TTL CMOS wzmacniaczy operacyjnych MOS PNP NPN BTE392

Wielofunkcyjny tester układów scalonych IC wyposażony jest w wyświetlacz ciekłokrystaliczny LCD, podstawkę zaciskową ZIF-24, oraz klawiaturę sterującą. Zasilany jest przy pomocy dwóch baterii AA 1,5V. Tester jest całkowicie przenośny i umożliwia testowanie/sprawdzanie/wykrywanie/: cyfrowych układów logicznych z serii TTL/CMOS, układów interfejsowych, wzmacniaczy operacyjnych, tranzystorów bipolarnych pnp npn, tranzystorów unipolarnych N- MOS P -MOS, diod Zenera do 50V, transoptorów (optoizolatorów). Sprawdzanie poprawności działania układów scalonych sprowadza się do automatycznego wykrycia typu układu, tranzystorów do wykrycia układu wyprowadzeń, diod Zenera na zbadaniu spadku napięcia.


BTE-392 tester układów scolonych loginych TTL CMOS wzmacniaczy operacyjnych MOS PNP NPN BTE392BTE-392 tester układów scolonych loginych TTL CMOS wzmacniaczy operacyjnych MOS PNP NPN BTE392BTE-392 tester układów scolonych loginych TTL CMOS wzmacniaczy operacyjnych MOS PNP NPN BTE392

Wielofunkcyjny tester układów scalonych jest profesjonalnym instrumentem przeznaczonym dla inżynierów, personelu serwisowego, elektroników.  Różne tryby testowania -  można wybrać : tryb 5V lub 3,3V, tryb AUTO, 74HC, 74LS, CD4000, HEF400, 4500, wzmacniacze operacyjne, układy interfejsowe, transoptory, diody zenera, tranzystory.



dane techniczne:
  • tester układów scalonych IC
  • wyświetlacz ciekłokrystaliczny LCD
  • klawiatura sterująca
  • podstawka zatrzaskowa ZIF-24 pin
  • zasilanie: 2x bateria AA 1,5V (brak w zestawie)
  • funkcja automatycznego wykrywania włożonego układu scalonego
  • testowanie diod Zenera do 50V
prezentacja i przykładowe pomiary:

 
opis menu testera IC:


funkcja: opis funkcji:
Search Auto mode automatyczne wyszukiwanie typu
(jeśli to możliwe)
5.0v mode
3.3v mode
74HC testowanie układów z serii 74HC (konieczność ręcznego wybrania modelu)
74LS testowanie układów z serii 74LS (konieczność ręcznego wybrania modelu)
CD40 testowanie układów z serii  CD4000 (konieczność ręcznego wybrania modelu)
HEF40 testowanie układów z serii  HEF4000 (konieczność ręcznego wybrania modelu)
45/145 testowanie układów z serii  45 series 145 series logic device test (konieczność ręcznego wybrania modelu)
OTHER testowanie układów interfejsowych: MAX232, MAX485, 75175, 75176, 75c11.. (konieczność ręcznego wybrania modelu)
AMP testowanie wzmacniaczy operacyjnych, komparatorów: LM324, LM358, LM339, LM393, LM2902 ... (konieczność ręcznego wprowadzenia modelu).
TR identyfikacja tranzystora: typ tranzystora, oraz oznaczenie wyprowadzeń.
Identyfikowane tranzystory NPN, PNP, N-MOS, P -MOS, tyrystory, triak
ZD testowanie diod Zenera do 50V, rozdzielczość pomiaru 0,01V
LIGHT testowanie transoptorów 4 pinowy
OFF wyłączenie

wyświetlane komunikaty testera IC:

Komunikat: Opis:
OK test OK normalny
Batter rozładowana bateria - sprawdź baterię
Not found nie można znaleść / rozpoznać
Fault uszkodzony układ lub wybrano zły typ
Open otwarty obwód
Not supported nie obsługiwany
NPN typ tranzystora NPN
PNP typ tranzystora PNP
N-MOS typ tranzystora FET
P-MOS typ tranzystora FET
1-SCR Way SCR
2-SCR Triac
2D Common cathode and common anode rectifier
A.k.b.c.e.g. specyfikacja kolejności wyprowadzeń
Out of range napięcie Zenera poza zakresem pomiarowym
ERR1.2 auto test zakończony niepowodzeniem


BTE-392 tester układów scolonych loginych TTL CMOS wzmacniaczy operacyjnych MOS PNP NPN BTE392BTE-392 tester układów scolonych loginych TTL CMOS wzmacniaczy operacyjnych MOS PNP NPN BTE392BTE-392 tester układów scolonych loginych TTL CMOS wzmacniaczy operacyjnych MOS PNP NPN BTE392

zdjęcia:
BTE-392 tester układów scolonych loginych TTL CMOS wzmacniaczy operacyjnych MOS PNP NPN BTE392
BTE-392 tester układów scolonych loginych TTL CMOS wzmacniaczy operacyjnych MOS PNP NPN BTE392
BTE-392 tester układów scolonych loginych TTL CMOS wzmacniaczy operacyjnych MOS PNP NPN BTE392
BTE-392 tester układów scolonych loginych TTL CMOS wzmacniaczy operacyjnych MOS PNP NPN BTE392
BTE-392 tester układów scolonych loginych TTL CMOS wzmacniaczy operacyjnych MOS PNP NPN BTE392
 

Nikt jeszcze nie napisał recenzji do tego produktu. Bądź pierwszy i napisz recenzję.

Napisz recenzję
Oprogramowanie sklepu shopGold.pl