Strona główna » Mierniki, multimetry » mierniki RLC, LCR, » Tester układów scalonych IC

Kategorie

Adres sklepu

GOTRONIK PPHU

ul. Bystrzycka 69C
(I piętro, wejście od strony osiedla)
54-215 Wrocław

Godziny otwarcia sklepu:
poniedziałek 08:00 - 16:00
wtorek 08:00 - 16:00
środa 08:00 - 16:00
czwartek 08:00 - 16:00
piątek 08:00 - 16:00
sob. - niedz. zamknięte

Mapa (kliknij):

Kontakt

Gotronik PPHU
NIP: PL8971671385
E-mail:biuro@gotronik.pl
TelefonBiuro: 71 351 10 31
Zamówienia: 511-048-814
Pyt, techniczne: 514-349-414
Gadu Gadu1767965
5476656
8342724

Bestsellery

zobacz wszystkie

Wsparcie

Oprogramowanie

Instrukcje

Reklamacje

Odstąpienie od zakupu

Hity sklepowe

Promocja -13%

UT15C dwubiegunowy wskaźnik napięcia LED LCD woltomerz AC DC 12V 24V 690V Unit MIE0116

UT15C wskaźnik napięcia 12-690V AC/DC118,00 zł102,99 zł brutto83,73 zł netto

Promocja -7%

Kamera termowizyjna UTi260B rozdzielczość 256 x 1921 315,00 zł1 225,00 zł brutto995,93 zł netto

Promocja -16%

SDS1204X-E oscyloskop cyfrowy 4x200MHz czterokanałowy Super Phosphor SIGLENT

[zestaw promocyjny] SDS1204X-E oscyloskop cyfrowy 4x100MHz + odblokowanie opcji generatora oraz analizatora stanów logicznych GRATIS3 776,10 zł3 173,40 zł brutto2 580,00 zł netto

zobacz wszystkie

Super promocja -12%

Tester układów scalonych IC

mini moduły

Czas wysyłki: 24 godziny

Koszt wysyłki: od 0,00 zł

Numer katalogowy: BTE-392

Stan magazynowy:

Stan produktu: Nowy

Cena brutto: 395,00 zł

Cena netto: 321,14 zł

Cena poprzednia: 447,00 zł

Najniższa cena w okresie 30 dni przed wprowadzeniem obniżki to 447,00 zł

Ilość: szt.

Dodaj do koszyka

dodaj do schowka

Zapytaj o produkt Poleć znajomemu Specyfikacja PDF

Opis produktu
Recenzje produktu (0)

Tester układów scalonych IC

BTE-392 tester układów scolonych loginych TTL CMOS wzmacniaczy operacyjnych MOS PNP NPN BTE392

Wielofunkcyjny tester układów scalonych IC wyposażony jest w wyświetlacz ciekłokrystaliczny LCD, podstawkę zaciskową ZIF-24, oraz klawiaturę sterującą. Zasilany jest przy pomocy dwóch baterii AA 1,5V. Tester jest całkowicie przenośny i umożliwia testowanie/sprawdzanie/wykrywanie/: cyfrowych układów logicznych z serii TTL/CMOS, układów interfejsowych, wzmacniaczy operacyjnych, tranzystorów bipolarnych pnp npn, tranzystorów unipolarnych N- MOS P -MOS, diod Zenera do 50V, transoptorów (optoizolatorów). Sprawdzanie poprawności działania układów scalonych sprowadza się do automatycznego wykrycia typu układu, tranzystorów do wykrycia układu wyprowadzeń, diod Zenera na zbadaniu spadku napięcia.

Wielofunkcyjny tester układów scalonych jest profesjonalnym instrumentem przeznaczonym dla inżynierów, personelu serwisowego, elektroników. Różne tryby testowania - można wybrać : tryb 5V lub 3,3V, tryb AUTO, 74HC, 74LS, CD4000, HEF400, 4500, wzmacniacze operacyjne, układy interfejsowe, transoptory, diody zenera, tranzystory.

dane techniczne:

tester układów scalonych IC
wyświetlacz ciekłokrystaliczny LCD
klawiatura sterująca
podstawka zatrzaskowa ZIF-24 pin
zasilanie: 2x bateria AA 1,5V (brak w zestawie)
funkcja automatycznego wykrywania włożonego układu scalonego
testowanie diod Zenera do 50V

prezentacja i przykładowe pomiary:

opis menu testera IC:

funkcja:		opis funkcji:
Search	Auto mode	automatyczne wyszukiwanie typu (jeśli to możliwe)
	5.0v mode
	3.3v mode
74HC		testowanie układów z serii 74HC (konieczność ręcznego wybrania modelu)
74LS		testowanie układów z serii 74LS (konieczność ręcznego wybrania modelu)
CD40		testowanie układów z serii CD4000 (konieczność ręcznego wybrania modelu)
HEF40		testowanie układów z serii HEF4000 (konieczność ręcznego wybrania modelu)
45/145		testowanie układów z serii 45 series 145 series logic device test (konieczność ręcznego wybrania modelu)
OTHER		testowanie układów interfejsowych: MAX232, MAX485, 75175, 75176, 75c11.. (konieczność ręcznego wybrania modelu)
AMP		testowanie wzmacniaczy operacyjnych, komparatorów: LM324, LM358, LM339, LM393, LM2902 ... (konieczność ręcznego wprowadzenia modelu).
TR		identyfikacja tranzystora: typ tranzystora, oraz oznaczenie wyprowadzeń. Identyfikowane tranzystory NPN, PNP, N-MOS, P -MOS, tyrystory, triak
ZD		testowanie diod Zenera do 50V, rozdzielczość pomiaru 0,01V
LIGHT		testowanie transoptorów 4 pinowy
OFF		wyłączenie

wyświetlane komunikaty testera IC:

Komunikat:	Opis:
OK	test OK normalny
Batter	rozładowana bateria - sprawdź baterię
Not found	nie można znaleść / rozpoznać
Fault	uszkodzony układ lub wybrano zły typ
Open	otwarty obwód
Not supported	nie obsługiwany
NPN	typ tranzystora NPN
PNP	typ tranzystora PNP
N-MOS	typ tranzystora FET
P-MOS	typ tranzystora FET
1-SCR	Way SCR
2-SCR	Triac
2D	Common cathode and common anode rectifier
A.k.b.c.e.g.	specyfikacja kolejności wyprowadzeń
Out of range	napięcie Zenera poza zakresem pomiarowym
ERR1.2	auto test zakończony niepowodzeniem

zdjęcia:

Nikt jeszcze nie napisał recenzji do tego produktu. Bądź pierwszy i napisz recenzję.

Tylko zarejestrowani klienci mogą pisać recenzje do produktów. Jeżeli posiadasz konto w naszym sklepie zaloguj się na nie, jeżeli nie załóż bezpłatne konto i napisz recenzję.

Klienci zakupili także