Zestaw sond bliskiego pola EMC EMI 9kHz - 6GHz

Zestaw sond bliskiego pola to wysoce precyzyjne instrumenty przeznaczone do analizy zjawisk kompatybilności elektromagnetycznej w elektronice. Urządzenia te służą do dokładnego lokalizowania źródeł promieniowania oraz zaburzeń w obwodach, na płytkach drukowanych i przy inspekcji wycieków z obudów. Najważniejszym elementem tego wariantu jest zaawansowana sonda Ex_large-Type III, która posiada czterowarstwową, w pełni ekranowaną strukturę doskonale tłumiącą zewnętrzne zakłócenia. Pozostałe sondy magnetyczne Type II charakteryzują się dwuwarstwową budową z układem półekranowanym, co zapewnia optymalną czułość w szerokim paśmie roboczym. W skład zestawu wchodzi również innowacyjna sonda hybrydowa, integrująca detekcję pola elektrycznego i magnetycznego, co znacznie przyspiesza pracę w przypadku nieznanych źródeł promieniowania. Należy pamiętać, że bezpieczne napięcie izolacji dla wszystkich sond wynosi poniżej 50V, a praca z wyższymi wartościami wymaga zastosowania odpowiedniej taśmy izolacyjnej.

Kluczowa specyfikacja i parametry zestawu

• - Częstotliwości: 9 kHz – 6 GHz, w zależności od sondy
• - Detekcja źródeł EMI
• - Testy EMC pre-compliance
• - Inspekcja wycieków elektromagnetycznych
• - Diagnostyka PCB
• - Wymiary pętli (Sonda Ex_large-Type III): 45 mm
• - Wymiary pętli (Large-Type II): 20 mm
• - Wymiary pętli (Medium-Type II): 10 mm
• - Wymiary pętli (Small-Type II): 6 mm
• - Pasmo pracy sondy Ex_large-Type III: 9 kHz – 90 MHz
• - Pasmo pracy sond Type II (Large, Medium, Small): 1 MHz – 6 GHz
• - Zastosowanie sondy Ex_large:
•   = Niskoczęstotliwościowe testy rektyfikacyjne zaburzeń przewodzonych (CS)
• - Zastosowanie sondy Large: 
•   = Inspekcja pola na obszarze ok. 10 cm, detekcja wycieków z obudów urządzeń (chassis)
• - Zastosowanie sondy Medium:
•   = Badanie przestrzeni w zasięgu ok. 3 cm
• - Zastosowanie sondy Small:
•   = Dokładne poszukiwanie źródeł zakłóceń w małej skali na pojedynczych ścieżkach
• - Napięcie izolacji: < 50 V, możliwość pracy z wyższym napięciem tylko po nawinięciu taśmy izolacyjnej na sondę
• - Skuteczna detekcja promieniowania bez wcześniejszego określania, czy źródłem jest pole E czy H
• - Budowa sond Type II: 2 warstwy, półekranowane (ekranowanie miedziane z trzech stron, jedna strona odkryta)
• - Budowa sondy Type III: 4 warstwy, pełne ekranowanie, struktura symetryczna silnie redukująca zakłócenia z zewnątrz
•  

Zestawienie parametrów i charakterystyki sond

Model	Opis	Charakterystyka częstotliwościowa
Ex_large-Type III Magnetic-field Probe	Bardzo duża sonda pola magnetycznego, używana głównie do eksperymentów rektyfikacji CS przy niskich częstotliwościach. Częstotliwość: 9KHz - 90MHz Pętla: 45mm (Napięcie izolacji sondy wynosi poniżej 50V. Jeśli jest używana do wykrywania sygnałów wysokiego napięcia, proszę owinąć sondę taśmą izolacyjną o odpowiedniej grubości.)
Large-Type II Magnetic-field Probe	Duża sonda pola magnetycznego, która może kontrolować pole magnetyczne w zakresie 10 cm. Używana głównie do testowania wycieków z obudowy lub do wykrywania szerokiego zakresu źródeł zakłóceń. Częstotliwość: 1MHz - 6GHz Pętla: 20mm
Medium-Type II Magnetic-field Probe	Średnia sonda pola magnetycznego do sprawdzania pola magnetycznego w zakresie 3 cm. Częstotliwość: 1MHz - 6GHz Pętla: 10mm
Small-Type II Magnetic-field Probe	Mała sonda pola magnetycznego, używana głównie do poszukiwania źródeł zakłóceń w małym zakresie. Częstotliwość: 1MHz - 6GHz Pętla: 6mm
Near-field Electric-field Probe	Sonda pola elektrycznego bliskiego zasięgu, może wykrywać pionowe emisje pola elektrycznego. Częstotliwość: 1MHz - 6GHz Końcówka: 10mm